·持续近十年,为国际知名芯片厂商提供从测试策略制定、测试硬件设计、测试程序开发、量产程序优化等“一站式”全流程量产测试服务。

·所服务的产品广泛应用于手机销量Top2的国际知名科技企业,累计出货量超10亿颗。

·在客户产品量产过程中,团队累计处理150+次低良率案例,挽回约数千万美元损失,并妥善处理超百万颗有风险的芯片批次,维护了客户良好的市场声誉和品牌形象。

在芯片测试服务领域,西安紫光国芯ASIC测试团队以不断创新、精益求精的服务态度和过硬的专业能力,得到了客户的高度认可

团队核心成员拥有15年以上相关领域工作经验,涉及SoC芯片、高速IP、微控制器、电源管理芯片、存储芯片等多种类型芯片的各种测试场景。具备从测试方案制定到量产导入及后续量产优化的全流程经验,可为客户提供一站式的量产测试服务,也可根据客户特定需求提供定制化的测试咨询服务。

全面的芯片测试与咨询服务,加速产品上市与质量提升

ASIC测试团队可提供从测试策略制定、测试硬件设计、量产程序开发、产品PVT特性参数分析以及良率提升等芯片测试与咨询服务。

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通过对产品从研发到量产各阶段的精准有效支持, 加速产品上市,进一步增强产品市场竞争力和品牌信誉度,同时,为客户带来了持续的商业增长和价值提升。

先进测试设备,全面覆盖各类芯片的定制化测试需求

西安紫光国芯拥有一流的集成电路测试技术平台,可提供包括存储器和ASIC集成电路产品专业的测试服务、软硬件平台技术开发支持。

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· 多类型测试机台:既有能够对数字信号和混合信号进行精确测试的测试机型,同时也有适用于DRAM、FLASH存储类型芯片检测的测试机台。

· 温控测试系统:先进的控温设备可满足晶圆级和颗粒级的多温度测试需求。

· 软件平台:全面的测试程序开发软件及专用存储测试软件。

定制化测试硬件开发,提升测试效率、降低测试成本

凭借在测试硬件设计开发方面的深厚经验,西安紫光国芯ASIC测试团队能够为客户提供定制化的晶圆级和颗粒级测试解决方案。

测试硬件及仿真示例
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测试硬件及仿真示例

团队专注于深入理解客户的特定芯片测试需求,并设计出旨在优化测试资源利用的高效硬件方案。从而在保证测试质量的同时,实现测试效率的最大化,显著降低客户的测试成本。

精准的PVT特性分析,确保产品性能与工艺稳定性

ASIC测试团队通过深入分析产品的关键特性参数,即PVT,包括工艺、电压、温度等,以确保产品在多样化条件下展现出良好的性能和可靠性。

产品相关特性参数分析
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产品相关特性参数分析

团队依据产品设计的参数,进行全面的数据采集和细致的分析,制定精确、专业的测试方案。通过这一过程,深入验证产品性能参数和分析工艺参数影响,从而为产品的持续改进提供坚实的数据支撑。

优化良率管理,显著降低风险与成本

ASIC测试团队通过精确分析大量的测试数据,提前发现并完成工艺问题的处理,以有效识别风险批次。团队的主动反馈机制促进了生产线工艺的持续改进,从而显著提高了产品良率。这一策略极大降低了客户的成本,有效提升了产品的市场竞争力。

晶圆良率及测试数据分析
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晶圆良率及测试数据分析

依托全面的测试开发能力、丰富的项目经验与专业的人才储备,西安紫光国芯ASIC测试团队持续推进全流程芯片测试体系的优化,显著提升芯片测试的效率和覆盖率,获得了客户的高度信赖和认可。

全流程“一站式”设计服务
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全流程“一站式”设计服务

西安紫光国芯设计服务团队持续保持工艺节点的先进性,提供先进工艺的全流程设计服务解决方案,帮助客户解决先进工艺SoC芯片开发在设计、验证、后端实现及测试环节中的诸多技术挑战。团队通过13年的不断积淀,可为客户提供包括数字设计、功能验证、综合和可测性设计、后端物理实现、模拟设计开发、ATE测试开发和量产支持在内的全流程“一站式”设计服务解决方案,助力客户提升产品的核心竞争力。

全流程“一站式”芯片设计服务

联系人:苏经理

电 话:+86(29)88318000-8283

邮 箱:ds_contact@unisemicon.com

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