无锡松煜取得用于硅片表面沉积氧化铝膜的方法专利,使在 TOPCon 电池硅片正面沉积得到厚度均匀性好的氧化铝膜
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金融界 2024 年 9 月 1 日消息,天眼查知识产权信息显示,无锡松煜科技有限公司取得一项名为“用于硅片表面沉积氧化铝膜的方法“,授权公告号 CN118127485B,申请日期为 2024 年 4 月。
专利摘要显示,本发明涉及半导体制造技术领域,公开了一种用于硅片表面沉积氧化铝膜的方法。本发明方法通过在载体舟中增设降速板、提速板以及舟盖,以及在原子层沉积腔中增加反射板的设置,对流经载体舟内的前驱体气流量及气流方式进行优化,使在 TOPCon 电池硅片正面沉积得到厚度均匀性好的氧化铝膜,且该硅片背面不被绕镀。特别地,反射气进气的方式减缓前驱体气体对背面紧贴的 2 片硅片的冲击,避免 2 片硅片背面分离,进而避免氧化铝膜绕镀。
本文源自:金融界
作者:情报员
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