德国 kafer 凯发 薄膜测厚仪 F1101/30 F1000/30 F1000/30-3
KÄFER薄膜测厚仪
KÄFER公司的这四款薄膜测厚仪,虽然型号不同,但它们都具有高精度、多功能、操作简便等共同特点,都是测量行业中常用的工具。
F1101/30和F1101/30-0.1系列
这两个型号的测厚仪主要以机械指针显示,结构相对简单。
- F1101/30:适合测量厚度在1mm以内的薄膜。
- F1101/30-0.1:专为测量极薄膜(0.1mm以下)而设计。
F1000/30
F1000/30的量程更大,适合测量厚度在1mm以上的薄膜。相较于F1101系列,它的周值更大,稳定性更高。
FD 1000/30-3
FD 1000/30-3是系列中功能最强大的型号。
- 数字显示:读数更直观,方便记录数据。
- 数据传输:配备RS232和USB接口,可将测量数据传输至电脑进行分析。
- 测量力可调:根据不同材料的特性,可以调整测量力。
- 0或F1101/30-0.1。
- 如果您需要测量1mm以上的薄膜,可以选择F1000/30。
- 如果您需要高精度、大测量范围、且需要进行数据分析的薄膜测量,可以选择FD 1000/30-3。详情请询:北京地泰科盛
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