金融界2024年10月29日消息，国家知识产权局信息显示，深圳市欢太科技有限公司申请一项名为“磁盘坏道检测方法、装置、设备及存储介质”的专利，公开号 CN 118824332 A，申请日期为2023年4月。

专利摘要显示，本申请提供了一种磁盘坏道检测方法、装置、设备及存储介质，属于计算机技术领域。该方法包括：响应于读写指令，获取所述读写指令携带的磁道标识，所述读写指令包括读指令和写指令，所述读指令用于指示读取所述磁道标识所指示的磁道中存储的数据，所述写指令用于指示向所述磁道写入数据，所述磁道标识用于指示磁盘中的磁道；基于所述磁道标识，执行所述读写指令；响应于所述读写指令执行失败，将所述读写指令携带的磁道标识写入坏道记录库，所述坏道记录库用于记录已发现的磁盘坏道。上述方案能够在对磁道进行读写数据的过程中，同步检测磁道是否为磁盘坏道。

本文源自：金融界

作者：情报员