金融界2024年11月14日消息，国家知识产权局信息显示，百及纳米科技（上海）有限公司申请一项名为“高信噪比的扫描探针测量方法与系统”的专利，公开号CN 118936304 A，申请日期为2023年5月。

专利摘要显示，本发明实施例提供了一种高信噪比的扫描探针测量方法与系统，涉及测量技术领域。扫描探针测量方法包括：获取待测样品的参照曲线，并根据参照曲线设定各测量点的加权系数，参照曲线表征了至少一次测量所得到的待测样品表面上多个测量点的参照测量值；基于各测量点的加权系数，调整各测量点的测量耗时参数，测量耗时参数表征对测量点进行测量所需的处理时间基于调整后的各测量点的测量耗时参数对待测样品表面进行扫描测量，得到测量曲线。本发明中，能在相同的测量时间内，测量得到信噪比高的测量数据，亦即在满足一定信噪比要求的条件下尽可能减少测量耗时。

本文源自：金融界

作者：情报员