金融界2024年12月18日消息,国家知识产权局信息显示,上海华力集成电路制造有限公司取得一项名为“一种针对晶背缺陷的检测方法”的专利,授权公告号CN 114140425 B,申请日期为2021年11月。

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作者:情报员