三利谱申请测试 A 型补偿膜的光学膜样品及其测试方法专利,能在无昂贵专业设备时较准确判断补偿膜的补偿值
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金融界2024年12月26日消息,国家知识产权局信息显示,深圳市三利谱光电技术有限公司申请一项名为“一种测试A型补偿膜的光学膜样品及其测试方法”的专利,公开号CN 119178580 A,申请日期为2024年8月。
专利摘要显示,本发明公开了一种测试A型补偿膜的光学膜样品,包括若干层层叠的待测A型补偿膜,所述待测A型补偿膜是光轴平行于薄膜表面的相位补偿膜;一层用于起偏作用的偏振片以及任意相邻的两层待测A型补偿膜之间分别粘合一层不影响光线偏振态情况的高透过率透明胶层。本发明通过补偿膜与检偏器的结合,将补偿值由偏振度数据化,在没有AXO SCAN等昂贵专业设备测试的情况下,较准确判断补偿膜的补偿值。
本文源自:金融界
作者:情报员
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