金融界2025年1月2日消息，国家知识产权局信息显示，吉林华微电子股份有限公司取得一项名为“一种芯粒电参数曲线测试台及测试装置”的专利，授权公告号CN 222233570 U，申请日期为2024年1月。

专利摘要显示，本申请公开了一种芯粒电参数曲线测试台及测试装置，涉及芯粒电参数测试技术领域，用于解决现有技术中测试芯粒的电参数曲线的效率比较低的技术问题。所述测试台包括垫板、支撑圈和探针组件，所述垫板用于放置芯粒；所述支撑圈通过支撑架安装在所述垫板的上方；所述探针组件的数量为多个多个所述探针组件均安装在所述支撑圈上，所述探针组件与芯粒的电极电接触。本申请通过在支撑圈上设置多个探针组件，只需一个人就可以使探针组件与芯粒的多个电极接触，不需要多个人同时操作，从而可以提高对芯粒的电参数曲线的测试效率。

本文源自：金融界

作者：情报员