杭州广立微取得半导体栅极侧墙厚度相关专利
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金融界2025年4月1日消息,国家知识产权局信息显示,杭州广立微电子股份有限公司取得一项名为“半导体栅极侧墙厚度测试方法、结构、装置及存储介质”的专利,授权公告号 CN 119297105 B,申请日期为2024年12月。
天眼查资料显示,杭州广立微电子股份有限公司,成立于2003年,位于杭州市,是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本20028.1088万人民币,实缴资本20000万人民币。通过天眼查大数据分析,杭州广立微电子股份有限公司共对外投资了14家企业,参与招投标项目41次,财产线索方面有商标信息88条,专利信息237条,此外企业还拥有行政许可55个。
本文源自:金融界
作者:情报员
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