浙江丽水中欣晶圆取得测量外延片外延层厚度的装置及其测量方法专利
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金融界2025年4月8日消息,国家知识产权局信息显示,浙江丽水中欣晶圆半导体科技有限公司取得一项名为“一种测量外延片的外延层厚度的装置及其测量方法”的专利,授权公告号CN 119133081 B,申请日期为2024年11月。
天眼查资料显示,浙江丽水中欣晶圆半导体科技有限公司,成立于2021年,位于丽水市,是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本250000万人民币,实缴资本250000万人民币。通过天眼查大数据分析,浙江丽水中欣晶圆半导体科技有限公司参与招投标项目13次,专利信息55条,此外企业还拥有行政许可15个。
本文源自:金融界
作者:情报员
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