金融界2025年4月22日消息,国家知识产权局信息显示,上海华虹宏力半导体制造有限公司申请一项名为“闪存测试方法”的专利,公开号CN119851743A,申请日期为2025年1月。
专利摘要显示,本申请公开了一种闪存测试方法,该方法包括:提供闪存,对闪存的存储单元进行增强擦除,所述增强擦除是指在所述存储单元的字线上施加大于正常擦除电压VEE的增强擦除电压VEE′对所述存储单元进行擦除;擦除完成后,对闪存各存储单元进行写“1”操作测试;如果有存储单元写“1”操作失效,则剔除所述闪存。利用本申请方案,可以将有缺陷的闪存在良率测试阶段充分筛选出来,避免其流到终端用户,降低造成终端失效的可靠性风险。而且,通过该测试,可以进一步提高闪存的可靠性,避免闪存终端用户模式使用失效。
天眼查资料显示,上海华虹宏力半导体制造有限公司,成立于2013年,位于上海市,是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本2046092.7759万人民币。通过天眼查大数据分析,上海华虹宏力半导体制造有限公司共对外投资了7家企业,参与招投标项目843次,财产线索方面有商标信息39条,专利信息5000条,此外企业还拥有行政许可429个。
本文源自:金融界
作者:情报员
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