金融界2025年5月1日消息，国家知识产权局信息显示，普冉半导体（上海）股份有限公司申请一项名为“芯片测试方法、测试设备、测试系统和存储介质”的专利，公开号CN119881593A，申请日期为2025年1月。

专利摘要显示，本发明提出一种芯片测试方法、测试设备、测试系统和存储介质。芯片测试方法包括以下步骤：在第一测试模式和/或第二测试模式下，对待测芯片执行电气连接性测试；读取待测芯片的唯一标识码，并判断唯一标识码是否与上一执行完测试的芯片的唯一标识码一致；若一致，则待测芯片发生叠料或卡料问题，将待测芯片归为第一芯片集合；否则，待测芯片执行第一测试模式和/或第二测试模式中的其他若干测试项；其他若干测试项包括电流测试、功能测试。通过本方法可以实现检查叠料或卡料问题，并且支持已经测试通过的芯片进行再次复测。

天眼查资料显示，普冉半导体（上海）股份有限公司，成立于2016年，位于上海市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本10560.9735万人民币。通过天眼查大数据分析，普冉半导体（上海）股份有限公司共对外投资了4家企业，参与招投标项目7次，财产线索方面有商标信息11条，专利信息193条，此外企业还拥有行政许可7个。

本文源自：金融界

作者：情报员