金融界2025年6月2日消息，国家知识产权局信息显示，深圳超盈智能科技有限公司申请一项名为“一种内存颗粒多维测试方法及系统”的专利，公开号CN120072023A，申请日期为2025年04月。

专利摘要显示，本发明公开了一种内存颗粒多维测试方法及系统，涉及内存颗粒测试技术领域，包括，安装多个待测内存颗粒形成多Rank组合，并通过设置交错映射模式模拟实际使用中的高负载环境；利用光子晶体传感器进行非接触式光波信号完整性测试，输出光波信号完整性数据；基于多Rank组合的机械性能数据和光波信号完整性数据，利用故障预测模型对潜在故障进行预测；基于故障预测模型的故障预测结果，结合线性地址和物理地址的转换，定位故障内存颗粒单元；本发明通过结合机械性能数据和光波信号完整性数据，利用故障预测模型实现潜在故障的智能分析和预警，提升了内存颗粒的稳定性和可靠性。

本文源自：金融界

作者：情报员