苏州创影精密仪器取得电子元件微小缺陷X射线检测装置专利 可对电子元件各个面充分检测
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金融界2025年6月3日消息,国家知识产权局信息显示,苏州创影精密仪器有限公司取得一项名为“一种电子元件微小缺陷X射线检测装置”的专利,授权公告号CN222939020U,申请日期为2024年07月。
专利摘要显示,本实用新型公开了一种电子元件微小缺陷X射线检测装置,其包括一种电子元件微小缺陷X射线检测装置,其包括操作台,所述操作台的正面装配有翻转机构,所述操作台的内部设置有螺纹杆,所述操作台的背面安装有检测机构;所述翻转机构包括移动块、连接杆、齿轮、直板和齿轮板,所述移动块的内壁与连接杆的外表面转动连接,所述连接杆的一端与齿轮的内壁固定连接。
本文源自:金融界
作者:情报员
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