金融界2025年6月24日消息，国家知识产权局信息显示，塞弗德公司申请一项名为“有缺陷单元检测系统及方法”的专利，公开号CN120202446A，申请日期为2023年09月。

专利摘要显示，本文提供了在制造期间实时识别有缺陷的样本卡夹的方法和系统。此种系统使用与制造样本卡夹的制造设备的操作相关联的受监测操作参数。从现有设备控制和/或其他传感器获得一个或多个操作参数数据集，并和与可接受的卡夹相关联的相应操作参数进行比较。缺陷检测单元可以配置为比较操作参数，并且可以选择包括演算法和/或模型，例如机器学习模型，通过这些模型可以识别出有缺陷的卡夹。比较步骤可以包括确定受监测的操作参数是否在预定义的可接受值范围内和/或是否偏离操作参数的特性线型，从而表明卡夹有缺陷。缺陷卡夹的检测可以集成到自动化控制中，以便可以实时检测出有缺陷的卡夹并在制造中自动丢弃。

本文源自：金融界

作者：情报员