制冷型 InSb 红外焦平面探测器工作时需降温至低温(80 K)，器件在整个生命周期会经受从常温(300 K)到低温(80 K)的上千次高低温循环。针对该型探测器开展了高低温循环特性试验，测试和分析了上千次高低温循环过程中器件光电性能、杜瓦热负载和 J-T 制冷器特性的变化。

试验设备：环仪仪器 高低温试验箱

试验准则：主要依据《GB 2689.1-81 恒定应力寿命试验和加速寿命试验方法总则》和国外进行相关试验。

试验参数：

常温：红外整机系统器件在不工作时的环境温度约 300 K。

工作温度：焦平面探测器正常工作时的温度，InSb 焦平面器件实际工作温度为 80 K。

试验步骤：

1、抽取筛选合格的焦平面探测器进行光电性能检测、制冷器测试(启动时间、启动流量、稳定流量、蓄冷)和杜瓦热负载检测；

2、通气 10min 使探测器处于液氮温度，并继续通气 30min，制冷器一共工作 40min;

3、之后停止通气，关闭制冷器，60min 后器件恢复室温，如此循环。

4、循环工作累计热冲击 2000 次，分别在进行至 200、500、1000、1500、2000 次时进行性能检测(器件光电性能、杜瓦漏热、制冷器性能)。

试验结果：探测器可以经受至少 2000 次高低温循环，并且探测率变化的幅度<5.5%、响应率变化的幅度<4.8%、盲元数未发生增加。研究结果为器件的工艺研发和改进提供了参考。

如有试验疑问，可以咨询“环仪仪器”技术人员。