在当前光电技术迅猛发展的时代背景下，功率型白光LED以其显著的高效性和节能性等突出优势，已经广泛渗透并应用于照明、显示等多个重要领域，其可靠性和稳定性问题也因此受到了业界和学术界的高度关注。然而，在实际应用过程中，诸如温度波动、电流变化等环境应力因素往往容易引发LED的光热参数发生劣化现象，这不仅直接影响到LED器件的性能表现，还会对其使用寿命造成不利影响。鉴于此，深入探究和剖析不同老化方式对功率白光LED光热特性的具体作用机制和影响程度，显得尤为关键和迫切，这对于进一步提升LED产品的性能稳定性和延长其使用寿命具有重要的理论和实践意义。

试验设备：环仪仪器 老化试验房

试验准备：

样品选择与预处理：

选1W GaN基白光LED为样品，先在常温和正常工作电流下预处理100h ，剔除初始性能不稳定样品，再筛选发光颜色和光谱特性一致的样品分组（每组5颗 ）。

搭建驱动电路，保障试验中电流稳定输出，为老化试验提供基础条件 。

设备与测试系统

老化试验设备：实现HTCD（高温85℃、电流350mA ）和HTS（温度125℃ ）环境，控制温度、电流等应力参数，模拟不同老化工况 。

测试系统：用Spectras320 LED光谱系统测光谱、光通量等光参数；Keithley 2400测电流 - 电压特性；积分球（ISP300 ）测空间光分布；T - ster热阻测试仪结合RC网络和结构函数理论测热阻，全面获取LED光热参数 。

试验过程：

老化试验阶段：

HTCD老化：样品在85℃、350mA条件下老化1000h ，期间控制温度稳定，使器件结温与实验设定匹配，结束后在该温度下存储100h ，再测性能参数 。

HTS老化：样品在125℃、无电流条件下老化1000h ，保持温度稳定，结束后同样存储100h ，用于对比单一温度应力与温度 + 电流复合应力的老化影响 。

参数测试与分析阶段：

光参数测试：不同老化阶段，测样品光通量、光谱分布、显色指数、色坐标等，分析光衰、光谱偏移等规律 。

热特性测试：基于热阻定义和理论

，用热阻测试系统测热阻及结构函数，分析老化对LED热特性影响，探究热性能与光性能退化的关联 。

结论：HTC D老化下，光通量衰减40 - 60%，H T S下衰减仅10 - 14%，这表明电流应力对LED寿命影响较大。利用热阻瞬态响应法测试和结构函数理论分析两种高温老化条件下LED的热特性，结果显示，HTC D老化下LED热阻变化比H T S更明显，且热阻变化大多体现在导热Ag胶层。这主要是因为高温下电流应力使Ag颗粒空间分布不均，粘结界面产生空隙，导致热阻发生不同程度改变。

如有试验疑问，可以咨询“环仪仪器”技术人员。