国家知识产权局信息显示，北京智芯微电子科技有限公司申请一项名为“可编程逻辑块测试方法、系统、装置及现场可编程门阵列”的专利，公开号CN121027810A，申请日期为2025年7月。专利摘要显示，本发明涉及集成电路技术领域，公开了一种可编程逻辑块测试方法、系统、装置及现场可编程门阵列。可编程逻辑块是现场可编程门阵列的组成单元。首先，基于约束文件，将多个可编程逻辑块中的每个可编程逻辑块配置为向量产生模块、待测模块或结果检测比较模块，得到至少一组模块组合。接着，对于每组模块组合，通过至少一个向量产生模块生成激励信号，并将激励信号发送给至少两个待测模块。然后，通过至少两个待测模块根据接收到的激励信号执行测试运算，生成至少两个待测结果，并将待测结果发送至至少一个结果检测比较模块。最后，通过至少一个结果检测比较模块对至少两个待测结果进行对比，得到可编程逻辑块的功能测试结果。

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作者：情报员