国家知识产权局信息显示,长沙学院、长沙盈芯半导体科技有限公司申请一项名为“超高频RFID芯片的安全恢复方法、装置、设备及介质”的专利,公开号CN121071948A,申请日期为2025年11月。
专利摘要显示,本发明涉及射频信号安全技术领域,提供一种超高频RFID芯片的安全恢复方法、安全恢复装置、电子设备及介质。该方法包括建立RFID初始识别设备与硬件加密机有线通信连接;RFID初始识别设备不具有无线通信模块;进行第一安全认证,认证合格后,向RFID初始识别设备发送对应的TID码和芯片秘钥;RFID初始识别设备与RFID芯片物理触点接触建立通信连接,RFID初始识别设备离线设置;进行第二安全认证,向对应TID码的RFID芯片写入对应的芯片秘钥。基于此,通过硬件加密机授权下发密钥和物理触点写入的闭环,实现密钥的合法重置,节省更换成本,且防止写入过程中密钥被拦截或篡改,提高了重置密钥的安全性。
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本文源自:市场资讯
作者:情报员
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