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PART1

研讨会基本信息

NI测试测量技术研讨会再次由深圳起航,以AI+测试为主题,走遍十个城市,与全国各地朋友相聚,共同探讨AI+测试的落地,共赢智能测试的未来。

活动时间

2026年1月21日(星期三)

13:30-17:10(12点开始签到)

活动地点

厦门喜来登酒店

(地址:福建省厦门市湖里区嘉禾路386-1号)

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码上报名

NI测试测量技术研讨会厦门站

PART2

为什么参会?

  • 分享最新AI+测试进展,深入探讨如何实现技术落地

  • 技术专家面对面分享:最新测试技术成果,提高测试精度技巧,并为您解读各种疑难问题

  • 多款全新软硬件产品发布,AI助手Nigel™,全新PXI控制器/机箱/模块,全新DAQ产品,全新USRP产品

PART3

谁适合参加?

  • 测试测量工程师、研发工程师

  • 工程团队负责人,技术总监

  • 院校及研究所研究人员

  • LabVIEW爱好者,开发者

PART4

日程安排

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PART5

实机展示

  • NI Nigel™ AI助手体验

  • 通过配置快速完成PXI自动化测试任务(InstrumentStudio™软件展示)

  • 快速完成传感器配置与数据记录(FlexLogger™软件展示)

  • 射频通信原型验证平台USRP更新

  • 全新数据采集产品(DAQ)更新

  • 24bit高精度模数转换芯片(ADC)芯片测试系统

  • 多通道、大电流电源管理芯片(PMIC)测试系统

  • 全新双通道矢量信号收发仪VST-5860