国家知识产权局信息显示，中嘉微视（深圳）半导体科技有限公司申请一项名为“半导体缺陷检测方法”的专利，公开号CN121213480A，申请日期为2025年9月。

专利摘要显示，本公开提供了一种半导体检测方法，涉及半导体领域，其中方法包括：选择一种照明模式作为图像采集装置的当前照明模式，基于当前照明模式调整物理退化模型的参数；使用图像采集装置采集半导体样本的原始图像，将原始图像输入机器学习模型得到原始图像对应的重建图像；将重建图像输入物理退化模型得到重建图像对应的预测图像；若预测图像与原始图像之间的物理一致性损失小于等于预先设置的容忍阈值，则基于重建图像对半导体样本进行缺陷识别；若预测图像与原始图像之间的物理一致性损失大于容忍阈值，则对机器学习模型的参数进行优化，以使预测图像与原始图像之间的物理一致性损失小于等于容忍阈值。解决重建图像出现失真现象导致缺陷误判的问题。

天眼查资料显示，中嘉微视（深圳）半导体科技有限公司，成立于2025年，位于深圳市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本1000万人民币。通过天眼查大数据分析，中嘉微视（深圳）半导体科技有限公司参与招投标项目1次。

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作者：情报员