三星显示申请沉积掩模专利,掩模框架与膜之间的界面残余应力得到控制
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国家知识产权局信息显示,三星显示有限公司申请一项名为“沉积掩模”的专利,公开号CN121228169A,申请日期为2025年6月。
专利摘要显示,公开了一种沉积掩模。所述沉积掩模包括:掩模框架,具有限定在掩模框架中的单元开口;以及膜,设置在掩模框架上。膜包括设置在单元开口上的单元区,多个像素开口被限定在单元区中以连接到单元开口,并且掩模框架与膜之间的界面残余应力在约‑30MPa至约30MPa的范围内。
声明:市场有风险,投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成,仅供参考,不构成个人投资建议。
本文源自:市场资讯
作者:情报员
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