国家知识产权局信息显示，长春理工大学;深圳市科润光电股份有限公司申请一项名为“一种基于人工智能的LED芯片缺陷检测方法、设备及介质”的专利，公开号CN121280439A，申请日期为2025年12月。

专利摘要显示，本发明公开了一种基于人工智能的LED芯片缺陷检测方法、设备及介质，涉及半导体制造检测技术领域，包括，根据标定配置文件计算标定晶圆在各检测工位的时间窗口并结合阵列参数划分网格，生成多模态触发计划和芯片标识对应关系；对多模态原始数据进行校正、配准、裁剪和归一化，并按芯片标识对应关系组合为单芯片多模态数据；将单芯片多模态数据输入人工智能缺陷判定模型中，通过特征提取与特征融合，生成LED芯片缺陷类别和分档结果；通过构建图像、电学与时空位置的统一映射关系，实现了多模态检测数据在物理空间和时间维度上的高精度对齐，提升了缺陷识别的可靠性，精准剔除不良品。

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本文源自：市场资讯

作者：情报员