伊鲁米纳申请纳米孔测序中的受控多核苷酸易位专利,能够控制多核苷酸易位
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国家知识产权局信息显示,伊鲁米纳公司申请一项名为“纳米孔测序中的受控多核苷酸易位”的专利,公开号CN121285637A,申请日期为2024年4月。
专利摘要显示,本文提供了用于在纳米孔中进行基于修饰的受控多核苷酸易位以用于测序的方法,经修饰核苷酸,以及用于执行本发明所公开方法的试剂盒和系统。在一些实施方案中,修饰能够用于控制多核苷酸易位,其方式为通过修饰多核苷酸链上的核苷酸以携带修饰,其中这些修饰在遇到纳米孔时能够阻止或减慢易位。在一些实施方案中,施加电压能够一次移动一个核苷酸及其连接的修饰穿过纳米孔。
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本文源自:市场资讯
作者:情报员
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