中国地质大学(北京)等申请培养基中多种离子色谱检测方法专利,解决分离度不足等问题
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国家知识产权局信息显示,中国地质大学(北京);广州谱临晟科技有限公司申请一项名为“一种用于培养基中乙酸、硝酸和亚硝酸的离子色谱检测方法”的专利,公开号CN121275935A,申请日期为2025年10月。
专利摘要显示,本发明涉及分析化学技术领域,特别是一种用于复杂基质培养基中乙酸根、亚硝酸根和硝酸根离子分离检测的离子色谱方法。该方法主要解决现有离子色谱技术在检测复杂基质培养基时存在的分离度不足、基质干扰严重、检测精度和重现性差等问题。
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本文源自:市场资讯
作者:情报员
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