国家知识产权局信息显示，上海季丰技术有限公司;深圳季丰检测技术有限公司申请一项名为“一种TEM样品制备方法”的专利，公开号CN121298381A，申请日期为2025年12月。

专利摘要显示，本申请涉及半导体技术领域，提供了一种TEM样品制备方法。该方法包括：使用高能离子束对待加工样品进行初步减薄处理，得到初步减薄样品；使用低能离子束对初步减薄样品的纵截面进行至少一次交叉斜修处理，得到待分析TEM样品；其中，一次交叉斜修处理包括两次单向斜修处理，在两次单向斜修处理中垂直于所述初步减薄样品的横截面的垂直线与离子束入射方向之间的夹角符号相反。本申请可消除TEM样品的表面离子束拉痕，样品的表面平整度较好，从而提升后续的TEM成像质量。

天眼查资料显示，上海季丰技术有限公司，成立于2024年，位于上海市，是一家以从事专业技术服务业为主的企业。企业注册资本10000万人民币。通过天眼查大数据分析，上海季丰技术有限公司专利信息19条，此外企业还拥有行政许可5个。

深圳季丰检测技术有限公司，成立于2021年，位于深圳市，是一家以从事专业技术服务业为主的企业。企业注册资本2000万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳季丰检测技术有限公司参与招投标项目1次，专利信息7条，此外企业还拥有行政许可11个。

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作者：情报员