国家知识产权局信息显示，耶拿分析仪器有限两合公司申请一项名为“将孔径光阑的孔径的孔径几何形状适配到光谱仪中的光束的光束路径的方法”的专利，公开号CN121351332A，申请日期为2025年7月。

专利摘要显示，本发明涉及将孔径光阑的孔径的孔径几何形状适配到光谱仪中的光束的光束路径的方法。本发明涉及一种用于将孔径光阑（2）的孔径的孔径几何形状适配到光谱仪中的光束的光束路径的方法，其中光谱仪包括孔径光阑、多个光学组件和检测器，其中该方法包括如下步骤：提供光学模型，其描述光束路径并且包括光学组件以及它们的位置和定向，建立质量函数，其描述光束路径的至少一个质量标准，其中质量函数基于光学模型计算质量量度，提供孔径光阑的位置和孔径在光学模型中的最大区域，其中，最大区域由多个子孔径组成，借助于质量函数计算每个子孔径的质量量度，以及基于子孔径的质量量度来确定孔径几何形状。

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作者：情报员