国家知识产权局信息显示，特克特朗尼克公司申请一项名为“AI嵌入向量数据库校准架构”的专利，公开号CN121350294A，申请日期为2025年5月。

专利摘要显示，一种测试和测量系统具有测试和测量仪器，该测试和测量仪器包括：到受测试设备(DUT)的连接；一个或多个模数转换器(ADC)，用于接收来自DUT的信号并将其转换成一个或多个数字波形；以及一个或多个处理器，用于：接收与应用于DUT的一个调整参数集合相对应的一个或多个数字波形；构建一个或多个数字波形的一个或多个图像张量；使用人工智能嵌入模型，其根据元数据生成一个或多个文本字符串，并将元数据和一个或多个图像张量嵌入到向量中；访问向量数据库；接收索引集合，该索引集合具有与许多匹配相对应的许多索引；使用该索引集合来找到一个或多个最佳调整参数集合；以及验证DUT的操作。

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本文源自：市场资讯

作者：情报员