国家知识产权局信息显示，沃特世科技爱尔兰有限公司申请一项名为“光谱分析”的专利，公开号CN121359211A，申请日期为2024年6月。

专利摘要显示，公开了一种光谱分析的方法，该方法：提供针对光谱数据表示包含特定比例的至少第一组分和第二组分的混合物的样品的概率的表达式；从样品获得样品光谱数据，该样品可包含至少第一组分和第二组分的混合物；以及使用表达式和样品光谱数据来确定与至少第一组分和/或第二组分存在于样品中的比例相关的信息。

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作者：情报员