国家知识产权局信息显示，杭州广立微电子股份有限公司申请一项名为“一种图像缺陷检测方法、系统和可读存储介质”的专利，公开号CN121353267A，申请日期为2025年12月。

专利摘要显示，本发明涉及半导体图像处理领域，具体提供一种图像缺陷检测方法、系统和可读存储介质，包括视觉编码器、大语言模型和回归框预测头，所述方法包括将待检测图像输入至所述视觉编码器，生成基于全局信息和局部特征的图像向量；将缺陷问题文本输入所述大语言模型生成文本向量，所述大语言模型根据所述图像向量和所述文本向量得到预测信息；回归框预测头根据预测信息输出缺陷检测结果，所述缺陷检测结果包括缺陷检测框坐标和缺陷类别。能够在样本较少的情况下依然能够保持较高的检出率与准确率，具备良好的跨产线泛化能力。

天眼查资料显示，杭州广立微电子股份有限公司，成立于2003年，位于杭州市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本20028.1088万人民币。通过天眼查大数据分析，杭州广立微电子股份有限公司共对外投资了16家企业，参与招投标项目49次，财产线索方面有商标信息92条，专利信息255条，此外企业还拥有行政许可57个。

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作者：情报员