国家知识产权局信息显示，北方集成电路技术创新中心（北京）有限公司;清华大学申请一项名为“硅基板电性检测链路结构及测试方法”的专利，公开号CN121398545A，申请日期为2025年9月。

专利摘要显示，本申请涉及一种硅基板电性检测链路结构及测试方法，其中，硅基板电性检测链路结构包括：互连基板，互连基板包括沿第一方向和第二方向呈阵列排布的多个光罩区，每一个光罩区包括四个角落区，第一方向与第二方向垂直；多条分立的测试链路，每一条测试链路横跨沿第三方向分布的多个光罩区，且每一条测试链路中包括至少一根测试互连线，每一根测试互连线包括多个分立的角落连接线，每一个角落连接线呈“阶梯”式横跨相邻的三个光罩区中对应的三个角落区，第三方向与第一方向和第二方向相交。简化测试过程，并且支持跨光罩长链路测试，覆盖范围广，且通用性强。

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作者：情报员