国家知识产权局信息显示，塞里洛公司申请一项名为“固态接近准直堆和包含该固态接近准直堆的光学测量系统”的专利，公开号CN121399446A，申请日期为2024年4月。

专利摘要显示，本文描述了一种固态接近准直堆和包含所述固态接近准直堆的系统。还描述了用于电磁辐射的窄光束成形的方法，预期用于流体样本的测量。所述固态接近准直堆通常包括多层电磁辐射阻挡和吸收部件，所述部件选择性地允许近似平行的电磁光束通过。

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作者：情报员