国家知识产权局信息显示，伊莱利利公司申请一项名为“用于使用拓扑持续性特征来检测缺陷的方法和系统”的专利，公开号CN121399653A，申请日期为2024年6月。

专利摘要显示，本文描述的技术涉及用于检测制造组件中的缺陷的计算机化的方法和装置。在一些实施例中，用于监控制造缺陷的系统可以包括被配置为捕获制造组件的图像的图像捕获设备。该系统可以为图像中的多个拓扑特征中的每一个拓扑特征计算一组出生和死亡坐标；基于为多个拓扑特征中的每一个拓扑特征计算的该组出生和死亡坐标来确定数字特征；并且基于该数字特征来确定该图像是否指示制造组件中的缺陷。可以使用拓扑数据分析来计算该组出生和死亡坐标。数字特征可以被用来使用统计模型来确定图像是否指示制造组件中的缺陷。

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作者：情报员