国家知识产权局信息显示，塔克热系统（深圳）有限公司申请一项名为“自动化半导体制冷器性能测试设备及测试方法”的专利，公开号CN121410422A，申请日期为2025年12月。

专利摘要显示，本发明涉及半导体制冷器性能测试设备的技术领域，公开了自动化半导体制冷器性能测试设备，包括第一料盒、第二料盒、移动模组及测试模组，第一料盒和第二料盒分别用于放置晶环件，晶环件包括TEC模组；测试模组包括恒温载物台、激光器、ACR测试模块以及ZT测试模块，移动模组用于转移晶环件至恒温载物台，ACR测试模块用于对TEC模组进行ACR测试，激光器用于测量ZT测试模块与TEC模组之间的距离；ZT测试模块包括电流探组和电压探组，电流探组用于供电至TEC模组或用于切断TEC模组的电路，电压探组用于测量TEC模组的温差电势值反馈至服务器，服务器计算出ZT值。能够大批量对半导体制冷器产品进行测试，也能够降低测试误差，提高对样品性能的判断。

天眼查资料显示，塔克热系统（深圳）有限公司，成立于2021年，位于深圳市，是一家以从事通用设备制造业为主的企业。企业注册资本2000万美元。通过天眼查大数据分析，塔克热系统（深圳）有限公司专利信息21条，此外企业还拥有行政许可12个。

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作者：情报员