国家知识产权局信息显示，浙江宏仕达科技股份有限公司申请一项名为“基于光谱分析的PVC膜涂层均匀性检测方法”的专利，公开号CN121409979A，申请日期为2025年11月。

专利摘要显示，本发明公开了基于光谱分析的PVC膜涂层均匀性检测方法，涉及光学检测技术领域，包括以下步骤：S001，采用具备多角度旋转功能的可控入射光照系统对聚氯乙烯膜表面进行连续角度扫描，按不同入射角度采集对应波段范围内的反射光谱强度数据，生成包含干涉特征的光谱数据矩阵；S002，对光谱数据矩阵进行连续小波变换处理，将光谱响应信号进行多尺度局部分解，提取并分离周期性干涉特征信号，获得干涉消减后的净化光谱矩阵。本发明通过多角度光谱采集与干涉特征剥离，精准识别涂层厚度异常区域，结合强度指数调控喷涂参数，并构建检测—补偿—复检闭环机制，有效避免干涉误判，提升PVC膜涂层均匀性检测的准确性与调控效率。

天眼查资料显示，浙江宏仕达科技股份有限公司，成立于2014年，位于嘉兴市，是一家以从事橡胶和塑料制品业为主的企业。企业注册资本6480万人民币。通过天眼查大数据分析，浙江宏仕达科技股份有限公司共对外投资了5家企业，参与招投标项目19次，财产线索方面有商标信息1条，专利信息54条，此外企业还拥有行政许可13个。

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作者：情报员