国家知识产权局信息显示,拓荆创益(沈阳)半导体设备有限公司申请一项名为“一种射频引流屏蔽结构及薄膜沉积设备”的专利,公开号CN121451159A,申请日期为2025年12月。
专利摘要显示,本发明提供了一种射频引流屏蔽结构及一种薄膜沉积设备。所述射频引流屏蔽结构包括:多个固定支柱,其第一端固定连接工艺腔室的本体,而其第二端电性连接射频匹配器,其中,所述射频匹配器输出的射频信号,经由所述工艺腔室内部的沉积组件、所述工艺腔室的本体及多个所述固定支柱,传回所述射频匹配器;以及多个屏蔽罩,可拆卸地安装于相邻的所述固定支柱之间。
天眼查资料显示,拓荆创益(沈阳)半导体设备有限公司,成立于2023年,位于沈阳市,是一家以从事研究和试验发展为主的企业。企业注册资本50000万人民币。通过天眼查大数据分析,拓荆创益(沈阳)半导体设备有限公司参与招投标项目26次,财产线索方面有商标信息1条,专利信息465条,此外企业还拥有行政许可16个。
声明:市场有风险,投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成,仅供参考,不构成个人投资建议。
本文源自:市场资讯
作者:情报员
热门跟贴