国家知识产权局信息显示，伊克斯拉姆公司申请一项名为“扰动检测”的专利，公开号CN121464500A，申请日期为2024年6月。

专利摘要显示，公开了一种用于检测电子撞击X射线源中扰动的方法。该方法包括：控制电子束来指向静止靶标上的预期靶标位置并在该预期靶标位置处形成光斑，从而该电子束在该靶标上的实际靶标位置处形成光斑，该靶标包括在具有不同电子背散射概率的区域之间的第一边缘；在使该电子束光斑指向该预期靶标位置并与该第一边缘重叠的情况下，测量指示该靶标中吸收的电流随时间变化的第一系列值，其中，在测量第一系列值时，该预期靶标位置保持静止；以及基于第一系列值来计算指示该预期靶标位置与该实际靶标位置之间的相对位置中的扰动的第一质量度量。还公开了一种使电子束跨边缘扫描的替代方法，以及一种被配置为执行这些方法的X射线源。

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作者：情报员