国家知识产权局信息显示，奥谱天成（武汉）光电科技有限公司取得一项名为“自动光学薄膜厚度扫描测绘仪”的专利，授权公告号CN223882933U，申请日期为2025年4月。

专利摘要显示，本公开提供了一种自动光学薄膜厚度扫描测绘仪，属于光谱仪器技术领域。该自动光学薄膜厚度扫描测绘仪包括：壳体；测试平台，设于壳体上方，测试平台用于放置待测物品；水平滑轨组件，设于壳体内，水平滑轨组件用于驱动测试平台水平移动；支撑杆，设于壳体上，支撑杆上设置有纵向滑轨组件，纵向滑轨组件上设置有准直镜筒，准直镜筒内安装有光纤，纵向滑轨组件用于驱动准直镜筒纵向移动；其中，水平滑轨组件与纵向滑轨组件用于调节测试平台与准直镜筒之间的相对位置，以调节待测物品的摆放空间。该自动光学薄膜厚度扫描测绘仪实现根据待测物品尺寸调整准直镜筒的高度，方便光学薄膜厚度扫描测绘仪的使用。

天眼查资料显示，奥谱天成（武汉）光电科技有限公司，成立于2025年，位于武汉市，是一家以从事研究和试验发展为主的企业。企业注册资本1000万人民币。通过天眼查大数据分析，奥谱天成（武汉）光电科技有限公司专利信息15条。

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作者：情报员