国家知识产权局信息显示,意法半导体国际公司申请一项名为“盖角度检测”的专利,公开号CN121452990A,申请日期为2025年7月。

专利摘要显示,本公开的实施例涉及盖角度检测。本公开涉及一种用于盖角度检测的设备和方法,即使设备在直立位置中被激活,该盖角度检测也是精确的。在设备处于睡眠状态的同时,第一传感器单元和第二传感器单元测量加速度和角速度,并且基于加速度和角速度测量来计算相应的盖组件的取向。在设备退出睡眠状态后,处理器确定计算出的取向之间的距离,将该距离重新映射到范围从0度至360度的估计盖角度,将估计盖角度设置为初始盖角度,并且使用例如两个加速度计,两个加速度计和两个陀螺仪,两个加速度计和两个磁力计,或者两个加速度计、两个陀螺仪以及两个磁力计来更新初始盖角度。

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本文源自:市场资讯

作者:情报员