国家知识产权局信息显示，南亚科技股份有限公司申请一项名为“判断过宰程度的系统以及判断过宰程度的方法”的专利，公开号CN121510930A，申请日期为2025年11月。

专利摘要显示，一种判断过宰程度的系统，包含晶圆良率测试器、服务器以及员工装置。服务器电性连接晶圆良率测试器，并且包含测试数据库、训练数据库、过宰判断处理器以及错误通知处理器。过宰判断处理器电性连接训练数据库以及测试数据库，并且配置以根据历史过宰数据，对于测试初始编码数据执行过宰检查，以判断在晶片探针测试中的过宰程度是否超出允许范围。错误通知处理器配置以传送错误报告。员工装置电性连接服务器，并配置以接收错误报告。本发明的一些实施方式还提供一种判断过宰程度的方法。经由过宰判断处理器以及错误通知处理器，可以避免错杀晶粒，并且经由扫描测试初始编码数据，缩短需要用于过宰检查的时间。

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作者：情报员