国家知识产权局信息显示，飞纳台式科学仪器（上海）有限公司申请一项名为“粉末颗粒截面观测样品的制备方法及样品”的专利，公开号CN121521566A，申请日期为2025年11月。

专利摘要显示，本发明提供了一种粉末颗粒截面观测样品的制备方法及样品，涉及材料微观结构分析技术领域。该制备方法包括：将粉末颗粒与粘结剂混合以得到混合物，将混合物涂覆在支撑基板表面以形成薄层并固化；对固化后的薄层进行切割，以获得具有初始截面的薄层；将具有初始截面的薄层固定于样品台上，并使初始截面从样品台突出；利用离子束对突出的初始截面进行离子研磨，以获得最终分析截面。本申请通过将颗粒与粘结剂预先混合并涂布成膜，确保了颗粒的牢固固定；结合机械预切割与离子精细研磨，提高了制样效率，并获得了能真实反映材料内部结构的无损伤高质量截面。

天眼查资料显示，飞纳台式科学仪器（上海）有限公司，成立于2016年，位于上海市，是一家以从事科技推广和应用服务业为主的企业。企业注册资本500万人民币。通过天眼查大数据分析，飞纳台式科学仪器（上海）有限公司参与招投标项目2次，专利信息5条，此外企业还拥有行政许可1个。

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作者：情报员