国家知识产权局信息显示,中芯集成电路(宁波)有限公司申请一项名为“硅基空腔结构及其形成方法”的专利,公开号CN121536880A,申请日期为2025年11月。
专利摘要显示,本申请公开了一种硅基空腔结构及其形成方法,该半导体器件的制造方法包括提供一具有刻蚀窗口的硅基底;对硅基底进行预处理,以去除硅基底上的表面残留物;将预处理后的硅基底置于刻蚀腔体内进行主刻蚀阶段,在主刻蚀阶段中,仅对等离子体施加源功率,不施加偏置功率,并在降低刻蚀腔体的腔体压力的同时增加含氟蚀刻气体的通量,以增强等离子体的横向弥散性刻蚀能力,从而在硅基底的特定深度处形成侧向空腔结构并保留支撑结构。本申请实施例可以在狭窄且较深的沟槽内实现受控侧向空腔。
天眼查资料显示,中芯集成电路(宁波)有限公司,成立于2016年,位于宁波市,是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本473304.347718万人民币。通过天眼查大数据分析,中芯集成电路(宁波)有限公司参与招投标项目37次,财产线索方面有商标信息69条,专利信息513条,此外企业还拥有行政许可22个。
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本文源自:市场资讯
作者:情报员
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