国家知识产权局信息显示,斯考拉有限公司申请一项名为“用于确定物体的层的折射率和/或层厚度的装置和方法”的专利,公开号CN121586834A,申请日期为2024年5月。

专利摘要显示,本发明涉及一种用于确定物体的层的折射率和/或层厚度的装置和方法。

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作者:情报员