国家知识产权局信息显示，上海新微技术研发中心有限公司申请一项名为“一种微型电化学三电极测试芯片及其制备方法”的专利，公开号CN121595671A，申请日期为2024年8月。

专利摘要显示，本发明提供的一种微型电化学三电极测试芯片的制备方法，包括步骤一：衬底准备，在衬底表面沉积第一绝缘层，并在第一绝缘层上溅镀一层金属引线层，并对金属引线层进行光刻、刻蚀；步骤二：在金属引线层之上沉积第二绝缘层，在所述第二绝缘层上分别沉积与工作电极金属引线层、对电极金属引线层连通的第一金属电极层以及第二金属电极层；步骤三：在所述第一金属电极层以及所述第二金属电极层上沉积第三绝缘层，并沉积一层与所述参比电极金属引线层连通的第三金属电极层；步骤四：对所述第三金属电极层图案化，形成圆形位点；在所述第三金属电极层上沉积第四绝缘层，并在所述第四绝缘层上开设通孔，暴露出第一、第二、第三金属电极层的导电表面。

天眼查资料显示，上海新微技术研发中心有限公司，成立于2013年，位于上海市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本144416万人民币。通过天眼查大数据分析，上海新微技术研发中心有限公司共对外投资了21家企业，参与招投标项目494次，财产线索方面有商标信息52条，专利信息824条，此外企业还拥有行政许可47个。

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作者：情报员