国家知识产权局信息显示，上海欧因万科技发展有限公司申请一项名为“一种基于数据采集分析的半导体性能测试方法”的专利，公开号CN121596063A，申请日期为2025年11月。专利摘要显示，本发明公开了一种基于数据采集分析的半导体性能测试方法，涉及半导体测试技术领域，包括，设定温度点集合和频率点集合，构建温频功能场景表与轨迹采集脚本，将温度点集合、频率点集合、功能场景以及对应轨迹采集脚本关联，形成完整测试计划；根据轨迹功能带与功能可疑区标记集合，构建温频功能图谱，识别功能稳定区与功能脆弱区，输出器件功能测试结论及配置建议。本发明通过构建温频功能图谱，通过功能表现记录与功能风险记录联合识别功能稳定区与功能脆弱区，不仅能够给出可直接用于质量分级和应用选型的器件功能测试结论，还能够反馈测试平台的配置建议，实现对器件能力和测试能力的同步优化。

天眼查资料显示，上海欧因万科技发展有限公司，成立于2023年，位于上海市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本500万人民币。通过天眼查大数据分析，上海欧因万科技发展有限公司专利信息1条。

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作者：情报员