国家知识产权局信息显示，肖特股份有限公司申请一项名为“用于检测光学复合元件的方法及装置”的专利，公开号CN121655838A，申请日期为2025年9月。

专利摘要显示，本发明涉及用于检测光学复合组件的光学性能的方法和装置，其中复合组件）包括多个彼此连接的透明元件以及反射层，其中透明元件和反射层被布置为使得在耦合输入区段处耦合输入的光在复合组件的第一节段中利用多个透明元件被分成多个第一部分射束，第一部分射束在复合元件中沿着不同路径传导，并且其中，第一部分射束在第二节段中同样利用多个透明元件被多次部分反射，使得由于部分反射从侧面发出多个第二部分射束，其中：借助探测器来探测第二部分射束，并且由探测器的信号为多个第二部分射束测定品质指标，并且其中，优选地根据聚合规则选择多个第二部分射束，从所述第二部分射束的信号测定品质指标，使得品质指标能够指配给复合组件的特定部分。

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作者：情报员