国家知识产权局信息显示，华北电力大学;南京南瑞半导体有限公司;国家电网有限公司申请一项名为“消除母排结构差异对IGBT器件电流分配影响的方法及系统”的专利，公开号CN121681978A，申请日期为2025年12月。

专利摘要显示，本申请公开了一种消除母排结构差异对IGBT器件电流分配影响的方法及系统，涉及IGBT器件技术领域，该方法包括获取目标母排的母排结构参数；从IGBT器件中选取芯片支路作为参考支路；测量母排‑参考支路对的第一参数；根据所述第一参数计算所述母排‑参考支路对的第二参数；计算所述目标母排与所述目标IGBT器件之间的互感偏移系数；计算消除母排影响后的所述IGBT器件中各芯片支路的支路电流，本申请消除了母排互感对IGBT电流分配的影响，使得相同IGBT电流分配影响因素得到的结论能跨平台复现，为IGBT器件均流化研究提供了理论基础。

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作者：情报员