国家知识产权局信息显示，聚好看科技股份有限公司申请一项名为“一种晶圆缺陷检测方法及电子设备”的专利，公开号CN121788440A，申请日期为2025年11月。

专利摘要显示，本申请涉及工业质检技术领域，提供一种晶圆缺陷检测方法及电子设备，针对多光源晶圆缺陷检测场景，基于缺陷类别和显著光源之间的映射关系，构建多组晶圆数据集和多网络分支的缺陷分割模型，其中，每组晶圆数据集对应一个显著光源数量，每个网络分支也对应一个显著光源数量，多个网络分支共享一套参数，这样，每组晶圆数据集中的数据可分批次输入到对应的网络分支中，由于每组中的晶圆数据对应的显著光源数量相同，因此，网络分支卷积的输入通道数相同，从而节省模型计算的复杂度，减少光照对缺陷的影响，提升缺陷检测的准确性和稳定性，同时，使用显著光源下的芯粒图像进行模型训练，剔除了不明显缺陷特征的干扰，进一步提升了检测准确性。

天眼查资料显示，聚好看科技股份有限公司，成立于2016年，位于青岛市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本12500万人民币。通过天眼查大数据分析，聚好看科技股份有限公司共对外投资了4家企业，参与招投标项目21次，财产线索方面有商标信息421条，专利信息1070条，此外企业还拥有行政许可12个。

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本文源自：市场资讯

作者：情报员