国家知识产权局信息显示，东莞利扬芯片测试有限公司申请一项名为“老化BURN IN板自动供电与分选检测系统及方法”的专利，公开号CN121784528A，申请日期为2026年1月。

专利摘要显示，公开了一种老化BURN IN板自动供电与分选检测系统及方法，系统中，供电平台用于承载老化BURN IN板，供电控制模块响应供电指令向老化BURN IN板供电且预设供电时长后自动断电；信号采集模块连接老化BURN IN板机，信号采集模块通过老化BURN IN板的金手指信道采集各测试工位的高低电平模拟信号，并将信号传回上位机；上位机连接所述扫码识别模块、供电控制模块和信号采集模块，上位机根据所述编号验证老化BURN IN板与产品流程卡信息的一致性、发送供电指令至供电控制模块以及接收所述高低电平模拟信号，所述上位机根据所述高低电平模拟信号判断IC放置状态，生成筛选结果。

天眼查资料显示，东莞利扬芯片测试有限公司，成立于2020年，位于东莞市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本15000万人民币。通过天眼查大数据分析，东莞利扬芯片测试有限公司参与招投标项目4次，专利信息31条，此外企业还拥有行政许可26个。

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作者：情报员