国家知识产权局信息显示，江苏优普纳科技有限公司;无锡市锡山区半导体先进制造创新中心申请一项名为“键合引线缺陷检测方法、装置及计算设备”的专利，公开号CN121788449A，申请日期为2025年12月。

专利摘要显示，本发明公开了一种键合引线缺陷检测方法、装置及计算设备，方法包括：获取键合引线的原始图像和对应的模板图像，利用Deeplab网络对键合引线的原始图像进行分割得到分割掩码图像，进而建立分割掩码图像中的各个待检测焊点掩码与模板图像中的各个模板焊点之间的第一配对关系，根据第一配对关系确定每个待检测焊点是否存在偏位缺陷；并且，建立位于第一焊盘区与第二焊盘区的各个待检测焊点掩码之间的第二配对关系，根据第二配对关系建立待检测焊点掩码与金丝掩码之间的第三配对关系，根据第三配对关系确定键合引线的多条金线是否存在短路缺陷、断线缺陷、弯曲缺陷。基于此，能够准确、高效地对键合引线产品上的多条金线进行缺陷检测。

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作者：情报员